ЭЭлектроПоиск/Готовые устройства/Измерения и сбор данных/Дочерние карты-расширения для двухимпульсного тестера дискретных приборов
Готовое устройство · источник onsemi
Дочерние карты-расширения для двухимпульсного тестера дискретных приборов
Открытый проект со схемой, платой и документацией.
Карточка проекта
- Автор
- onsemi
- Лицензия
- onsemi reference design
Источник
https://www.onsemi.com/design/evaluation-board/EVBUM2909G-EVK
Лицензия: onsemi reference design · атрибуция автора
Описание
Комплект представляет набор дочерних карт-расширений для установки двухимпульсного тестирования дискретных силовых приборов onsemi.
Дочерние карты позволяют устанавливать приборы в разных корпусах и конфигурациях, расширяя возможности базового тестера по сравнительным измерениям динамических характеристик карбид-кремниевых MOSFET и IGBT.
Инструмент характеризации для разработчиков силовой электроники.
Особенности
- Набор дочерних карт для двухимпульсного тестера.
- Поддержка разных корпусов и конфигураций приборов.
- Расширение сравнительных измерений.
- Динамические характеристики SiC MOSFET и IGBT.
- Инструмент характеризации силовых приборов.
Файлы проекта · состав документации
Руководство пользователяPDF