Открытый проект со схемой, платой и документацией.

Плата обеспечивает двухимпульсное тестирование (double-pulse test) карбид-кремниевых (SiC) MOSFET в корпусе с нижним охлаждением TO-263-7 — методики измерения динамических потерь и характеристик переключения.
Плата спроектирована с учётом минимальной паразитной индуктивности и оснащена высокоскоростным токовым шунтом для оптимально точной оценки переключения. Пригодна также для теплового анализа и непрерывной работы мощностью в несколько киловатт.
Инструмент характеризации SiC-транзисторов для разработчиков силовой электроники.