ЭЭлектроПоиск/Готовые устройства/Источники питания/Оценочная плата GaN-полумоста на SGT080R70ILB (700 В, 60 мОм, 29 А)
Готовое устройство · источник STMicroelectronics

Оценочная плата GaN-полумоста на SGT080R70ILB (700 В, 60 мОм, 29 А)

Открытый проект со схемой, платой и документацией.

Оценочная плата GaN-полумоста на SGT080R70ILB (700 В, 60 мОм, 29 А)

Карточка проекта

Автор
STMicroelectronics
Лицензия
STMicroelectronics reference design
Источник
https://www.st.com/en/evaluation-tools/steval-g0807lbcb.html
Лицензия: STMicroelectronics reference design · атрибуция автора

Описание

STEVAL-G0807LBCB предназначена для оценки электрических и тепловых характеристик нитрид-галлиевого транзистора SGT080R70ILB (700 В, E-mode) с изолированным драйвером затворов STGAP2GSN.

Полумостовая конфигурация позволяет эмулировать топологии понижающего, повышающего преобразователя, корректора коэффициента мощности и инвертора при использовании внешнего контроллера и фильтрации. Плата оптимизирована для снижения выбросов и провалов напряжения при быстрых временах переключения.

Нитрид-галлиевые транзисторы установлены на верхней стороне платы FR4, что удобно для оценки разных теплопроводящих материалов (TIM) и получения максимальной мощности.

Особенности

  • Полумостовая топология для эмуляции buck, boost, PFC и инвертора.
  • Нитрид-галлиевый транзистор E-mode SGT080R70ILB (700 В, тип. 60 мОм, 29 А).
  • Изолированный драйвер затворов STGAP2GSN.
  • Оптимизация выбросов и провалов напряжения, быстрые времена переключения.
  • Верхнее размещение транзисторов для оценки теплопроводящих материалов (TIM).
Заметили ошибку?