MIRTEC покажет гибридную 3D-систему контроля MV-9SiP на SEMICON West 2026
Гибридная 3D-система контроля MV-9SiP объединяет 2D-зрение, 12-проекционный Digital Blue Light Moiré и сканирование синим лазером на единой платформе контроля полупроводниковых изделий. MIRTEC представит её на стенде #6162 выставки SEMICON West 2026 в Сан-Франциско.
MIRTEC объявила об участии в выставке SEMICON West 2026. Мероприятие пройдёт 13–15 октября 2026 года в конференц-центре Moscone Center в Сан-Франциско. Посетители найдут MIRTEC на стенде #6162, где компания представит свою систему контроля полупроводниковых изделий MV-9SIP.
Ключевые системы контроля на стенде: MV-9SIP
Гибридная 3D-система контроля MV-9SiP объединяет 2D-зрение, 12-проекционный Digital Blue Light Moiré (цифровой муар на синем свете) и сканирование синим лазером (Blue Laser Scanning) на единой платформе контроля полупроводниковых изделий. Фирменная система технического зрения 25MP CoaXPress с разрешением 7,7 мкм точно контролирует массивы чипов 01005, паяные шарики, бампы и плотно скомпонованные корпуса. 8-фазная коаксиальная цветная подсветка улучшает видимость трещин и поверхностных дефектов на отражающих компонентах CSP, а сканер на синем лазере надёжно измеряет как сильно отражающие, так и слабоотражающие поверхности.
Приверженность умному производству
«MIRTEC остаётся приверженной развитию технологий контроля и поставке надёжных решений для меняющихся потребностей производителей электроники, — сказал Roony Kim. — Сочетая высокоточный контроль, инновации на основе ИИ и обширную отраслевую экспертизу, мы продолжаем поддерживать требовательные применения в автомобильной, аэрокосмической и оборонной отраслях, помогая производителям достигать более высокого качества, производительности и надёжности процессов».